LED的理論壽命超過lO萬小時，在實際使用中，大電流、高溫和高濕等都會產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗箱對其進行老化試驗箱，從而了解燈具的壽命特征、失效原因和失效模式，對LED燈具的可靠性設計和質量改進提供依據(jù)。
技術參數(shù)：
試驗原理：
當LED燈具工作在高溫高濕的環(huán)境中，容易出現(xiàn)失效性破壞，其中高溫會加劇濕度對LED的破壞。濕度場的平衡時間遠高于溫度場，雖然濕應力相對熱應力較小，但同樣會對LED的可靠性造成影響，同時由于熱應力影響燈具的密封性，濕氣可能會透過LED路燈的密封膠或其它縫隙進入燈具內部，造成對燈具組件的腐蝕以及封裝材料特性的改變，進而改變光傳輸途徑，降低光效。
相關試驗標準和要求：
1AEC-Q 102 之LED的高溫高濕工作壽命
該標準使用高溫度、高濕度以及施加偏置的方法，加速環(huán)境水汽透過外部保護材料或沿著外部保護材料和連接它的金屬導體之間的界面滲透到器件內部，暴露器件可能存在的不足。最常見的高溫高濕條件為雙85，也就是85℃/85%RH。
AEC-Q102標準
車規(guī)級LED器件最常見的認證標準就是由美國汽車電子委員會（AEC）發(fā)布的AEC-Q102標準（方法參考JESD22-A101D.01）。
其要求LED需在降額曲線中最大電流以及結溫變化小于3k兩個要求下進行1000小時的高溫高濕工作壽命，試驗中必須監(jiān)控電流電壓，以免過流導致結溫過高燒壞器件。
如有LED高溫高濕可靠性試驗箱選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
